摘要: 针对几十～百keV能量的低强度X射线焦斑源测量,建立了高探测效率环孔编码成像技术.研究给出了环孔成像效率和信噪比与环孔结构参数的关系,采用微联结的环孔结构设计并模拟了联结区尺寸对成像质量的影响,解决了环孔结构同轴成像技术难题.所建立环孔成像系统应用于Unique-II X射线焦斑源成像实验.结果表明,X射线焦斑的空间分布近似为'马鞍'形状,而且中间部分的强度低于两侧的强度,与针孔成像结果相似,但环孔的探测效率明显高于针孔的效率.最后,分析了维纳滤波与R-L两种复原图像方法的效果.